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掃描電鏡儀ScanningElectronMicroscopy(SEM)
 

  儀器介紹:日本島津公司SS550配備美國Gaton公司MONOCL4陰極發光儀。

  性能參數:二次電子像分辨率:最佳可達3.5納米,儀器的放大倍數×20~200000倍連續可調。

  應用范圍:主要用于礦物巖石等材料微區形貌分析,具有分辨率高、景深大,圖像清晰的特點:

  (1)用于微體古生物形態、表面形態的觀察;粘土礦物形態觀察;石英砂粒度表面形貌分析,用以確定其成因

  (2)用于巖石孔隙的分析,粘土礦物的分析,從而研究巖石的后生變化及成油條件

  (3)金屬材料斷口形貌的研究,從而分析材料斷裂的原因。

  (4)薄膜材料表面形貌的分析。

  (5)用于礦物陰極發光的研究,是研究礦物次生加大、環帶構造的有力工具。可拍攝高分辨照片。


                             編輯: 天津地質調查中心   發布時間: 2014-01-15
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